产品描述:
ADIR160系列插损回损测试仪是帝勃通信技术有限公司自主研发的高精度的宽量程的插回损测试一体化设备。
ADIR160系列插损回损测试仪采用 的2级光放大技术和采样技术是业界 的光测试测量产品。
ADIR160系列插损回损测试仪已经广泛的应用在光纤跳线、适配器、衰减器等光器件生产和研发以及各类型光电实验室教学中。
产品特性:
内置1310和1550 nm激光器;内置高精度低功率回损测试架构,探测范围达80dB;液晶屏刷新率动态可调,数码字体显示;内置光功率计,同步波长切换;可设置1310、1550nm 间隔自动切换测试(无需手动按键切换);小信号测量(1nW输入),不准确度可达0.1dB;串口R232控制,提供串口指令,并可自动存储数据;可锁定并显示 最小值;可单、双屏幕显示切换,同时或者单独显示插损和回损结果;FC,SC,光纤夹 连接头,通用光纤夹可选配;
规格参数:
插回损仪型号 ADIR160
工作波长(nm) 1310,1550
回损指标
测试范围(dB) 0~80
测试不确定度(dB) ±0.13(3%)
线性度(dB) 0.02
光输出稳定度(dB) 0.005
接口类型 FC/APC
插损指标
测试范围(dBm) +3~-75
测试不确定度(dB) ±0.13(3%)
线性度(dB) 0.02
接口类型 FC,SC,通用接头,光纤夹
设备指标
显示分辨率(dB) 0.01
通讯接口 RS232
工作电源 AC90~260V,50Hz
工作温度(℃) -10~+40
储存温度(℃) -25~+70
主机重量(kg) 3kg
外观尺寸(mm) 385*260*120
产品配置:主机、光盘、电源线、标准测试跳线