VersaScan微区电化学测试系统（微区扫描电化学工作站）

                  -------------普林斯顿 Princeton

    普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行 测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。
    普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是提供给电化学及材料测试以 空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的 测量。
    普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：

1. Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜
2. Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试
3. Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
4. Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
5. Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试
6. Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试
    以上普林斯顿维区电化学工作站每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。