DFN8-1.27(6*8)下压探针测试座顶窗结构,自动机台适用!!!产品简介㈠、产品用途:对DFN8的IC芯片进行老化、编程、测试㈡、适用封装:WSON\QFN\DFN8引脚间距1.27mm㈢、测试座:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27㈣、特点:探针结构,接触稳定,品质保证㈤、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、理论寿命长达10万次㈥、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD㈦、IC进行有锡球、无锡球不同测试,,交期快,提高使用效率规格尺寸㈠、型号:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27㈡、引脚间距(mm):1.27㈢、脚位:8㈣、芯片尺寸:6*8mm