订货量(件) | ≥1 | ||||
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价格(元/件) | 面议 |
供货总量: | 10000000件 |
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产 地: | 广东省/深圳市 |
发货期: | 自买家付款之日起2天内发货 |
QFN8DFN8探针老化座5×6mm1.27间距下压顶窗芯片测试座工厂工厂直销店铺服务到位!下压探针测试座,QFN8-1.275×6mm,大量现货当天发!【1.27间距/不带板】QFN8-1.27下压探针测试座产品简介产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN8引脚间距1.27mm测试座:QFN8-1.27特点:采用进口探针,接触 稳定,寿命 长规格尺寸型号:QFN-8-1.27引脚间距(mm):1.27脚位:8适配芯片尺寸:5*6mm老化座布板图: