基本介绍 (产品的基本描述，如定义、功能等)

  测定 常见的方法有分光光度法、比色法和激光荧光法。 常见的测定方法有α计数法、α能谱法和X射线计数法。但是用上述方法在热试样品分析过程中及样品预处理时操作比较烦琐，耗时较长，并且不能直接测定 和 。化学预处理样品后采用石墨晶体预衍射X射线荧光法测定 和 ，效果好，速度快。

性能特点 (除基本功能外的其它特质，例如工作时长、操作简便性等)

采用石墨晶体预衍射能量色散X射线荧光(EDXRF)分析，较好解决了放射性干扰的问题，U 的检出限比通常的EDXRF降低了约1个数量级。

技术参数 (例如材质、工艺、尺寸的技术标准等)

※ 仪器供电AC220V；
※ 分析元素范围：K-U；
※ 元素含量范围：0.2-10000mg/L；
※ 采用美国进口的SDD电致冷半导体探测器计数，配合专门的数字脉冲处理技术，能量分辨率 130eV(@5.9Kev，成形时间2μs)；
※ 能量范围：1－40KeV；
※ 重复性：>65% >97%(N为计数率)；
※ 光管高压：10kV-50kV；
※ 光管电流：0-5mA；
※ 光管额定功率：250W；
※ 整机能量分辨率：130eV(@5.9Kev，成形时间2μs)；
※ 检测时间：120S～500S（时间随样品而调整）；
※ 测量物质状态：液体；
※ 校正方式：采用标样校准仪器；
※ 性能稳定，运行可靠， ，操作简单；
※ 检测下限低于10-3g/L；
※ 通过软件控制高压电源，软件设置 X光管电压电流，可进行过压、过流保护，X光管温度监测，测量空闲时间高压电源保护以增加光管寿命；
※ 检出限：U：0.25μg/mL，Np：0.3μg/mL，Pu：0.3μg/mL
精密度：浓度：10μg/mL的U、Np、Pu测量RSD<5%
浓度测量范围：2~10000.25μg/mL

使用说明 (例如使用场所、工作原理、产品结构、安全操作说明等)

2.2.1高压电源：是给X光管提供高压和电流并保持高压和电流稳定的装置，由升压变压器、高压整流滤波、电压电流调整及其相关的安全保护装置构成。
2.2.2 X光管：由发射热电子的灯丝阴极和接受电子的靶阳极组成。在电流作用下发射热电子，在二极间高压电场作用下，热电子高速飞向靶阳极，产生X射线。
2.2.3 探测器：将X荧光转变为电压脉冲信号。为了准确区别不同能量的X荧光，必须采用SDD半导体探测器才能达到能量分辨率。
2.2.4放大器：电压脉冲信号放大到一定倍数，分为前置放大器和主放大器。前置放大器一般设计在探测器内，主放大器一般和多道分析器设计在同一主板里。
2.2.5多道分析器：多道脉冲幅度分析器是核谱测量中的关键部件，它的作用是把被测得的模拟量转变成计算机可以接受的数值量。经过放大的电压脉冲信号进入模数转换器（ADC）以数字形式进入和存储在分析器各自的通道。幅度相同的脉冲进入同一通道，并加以记录。
2.2.6数据处理：主要包括X荧光能谱谱线的成形、谱线中各元素的特征谱峰识别、谱线的能量刻度、目标元素对应峰面积的计算、谱线漂移实时稳谱、建立数据库、分析样品、含量计算及报告打印等功能。

采购须知 (例如发货时间、运输方式、售后服务事项等)