GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是深圳市华瑞高电子技术有限公司根据IEC/EN61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预检测测试系统，全系统性能可靠，操作便捷，测试效果堪与暗室比拟，目前已广泛应用于电力、通信、 、质检等领域，为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。产品特点：1.满足IEC/EN61000＆＃8722；4＆＃8722；3标准的测试规程对辐射抗扰度测试的要求；2.与暗室及开阔场相比，系统配置 加简化，操作方式 为便捷，可节省大量测试时间；3.在全频段拥有优异的电压驻波比（VSWR），可产生均匀且便于计算的电磁场。技术参数：工作频率范围：1＆＃12316；1000MHZ（可扩展至数GHZ）电压驻波比：VSWR￡1.7时域阻抗：50±2W最大输入功率：1000W电场强度范围：0＆＃12316；200V/M（根据输入功率大小）