产品详情
铜箔测厚仪 硅片厚度仪 薄膜测厚仪
设备型号：PARAM博每 CHY-CB
设备品牌：Labthink兰光
关键词：测厚仪，薄膜厚度仪，薄膜测厚仪，纸张厚度测定仪，厚度测量仪，厚度计，薄膜厚度测量仪，薄膜厚度检测仪，薄膜厚度测定仪，薄片测厚仪，硅片测厚仪，GB/T 6672，纸张测厚仪
设备报价：欢迎致电济南兰光0531-85068566咨询！
应用范围：采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度 测量。
技术特征：
√ 嵌入式计算机系统平台，一体化系统设计
√ 采用嵌入式数据库存储技术，人性化的操作界面和智能化的数据处理功能
√ 严格按照标准设计接触面积和测量压力，支持各种非标定制
√ 测量头自动升降，有效避免人为误差
√ 支持自动和手动两种测量模式
√ 实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据
√ 配置标准量块用于系统标定
√ 支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能
√ 微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板
技术特征：
1、测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
2、分辨率：0.1μm
3、测量速度：10 次/min （可调）
4、测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
5、接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
执行标准： 4593、 534、 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
仪器标配：主机、标准量块一件
生产厂家：济南兰光机电技术有限公司
公司网址：www.labthink.com
苏公网安备 32011202000136号 
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